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在测试中，实际信号源输出端阻抗与终端阻抗的匹配程度，直接决定了参考信号的波形质量、测试数据的真实性，甚至会影响仪器和被测件的安全。50Ω和1MΩ是电子测量中最常用的两种终端阻抗：50Ω是射频/高频测试的标准阻抗（适配信号源、频谱仪等射频设备的匹配）；1MΩ是高阻抗测试的典型阻抗（适配示波器、功率放大器、低频失真仪等设备的高阻需求）。错误的阻抗匹配会引发截然不同的波形畸变、测试失效甚至设备自激...

PMOS通常用在高端开关、源极接电源、栅极驱动电压相对源极为负，且工作在关闭状态下电压应力最大，容易导致Vgs过压（栅源击穿）、Vds（漏源击穿）。以下分别分析两者被击穿的原因：核心状态：关闭状态在PMOS作为高端开关且完全关断时：Vgs ≈ 0V （假设栅极被驱动电路拉到地电位）Vds ≈ -VDD （漏极为输入电压，源极为输出电压/负载端；对于PMOS，关断时Vds为负值，其绝对值等于电...

在高压直流纹波测量等场景中，常遇到这样的现象：使用同一高压探头搭配不同示波器或仅是不同通道下测交流耦合时，屏幕显示的基线零点位置出现明显差异，有的能正常归零，有的不在零位。这种偏移并非设备故障，而是探头与示波器组成的测量系统中，多重电路特性相互作用的结果。一、排除故障使用直流耦合测试，按规范操作将高压探头接入示波器，测1kV直流电源，若示波器可准确显示该直流信号的波形及1kV对应数值，则表明...

在调试高速电路时，我们常常会遇到信号波形畸变、过冲、振铃或者系统输出功率不足、灵敏度下降的问题，这些问题的背后，一个最常见且关键的原因就是——阻抗失配。当发送端与传输线之间、传输线与接收端之间出现阻抗不匹配时，就会发生反射，这些反射信号会破坏原有的输出信号，并叠加在原始输出信号中，从而出现上述一系列问题。图1 信号反射引起的畸变本文将从原理出发，系统阐述阻抗匹配如何影响信号，以及如何在工程中...

直流偏置现象是指在传感器或电子设备中出现的不希望的直流成分。在无输入的情况下，输出具有一定的直流电压，导致在加入输入信号后，出现在输出信号上叠加一定的直流偏置，直流偏置可能会导致信号失真、数据错误以及系统性能下降等问题，因此需要采取相应的校正措施。直流偏置可能由多种因素引起，如电路问题、系统故障或外部源。在模拟音频系统中，直流偏置可能来自各种来源，包括电容器故障、布线不平衡或放大器设计不当。...

DC 参数解析DC 范围（如±1000V）表示探头可稳定准确测量的直流电压范围。无论正/负直流电压，只要在该范围内，探头均能正常工作以及准确捕捉并输出精准的直流信号的幅值。rms 参数解析rms 特指纯正弦波的有效值。如700Vrms表示该探头可测量的正弦波有效值为700V。根据正弦波特性，峰值电压=√2×有效值。以700Vrms为例，其对应的峰值电压为√2×700V≈1000V，意味着该探...

差分探头的安全、精准测量，取决于对两个关键参数的把控：差模电压范围与输入端对地电压范围。二者缺一不可，任何一项超限都可能导致测量失准甚至探头损坏。以下结合实例详细说明。一、核心参数定义差模电压（Vdiff）指两个输入信号之间的电压差，计算公式为：Vdiff = V1 - V2（V1、V2 分别为两个输入端的电压）。输入端对地电压指每个输入端（如探头的 A、B 端）相对于参考地的电压，需分别满...

输入电容在选购差分探头时，通常有输入电容大小参数一栏，以下是选择输入电容大小需要考虑以下的因素：被测信号的特征如信号带宽/上升时间。通常测高频信号需要极低的输入电容，且由于输入电容与被测信号阻抗形成低通滤波，电容越大，截止频率越低，通过的高频信号越少，从而导致测试系统带宽降低。被测信号的阻抗同理上述公式，即使很小的输入电容(如1pF)对高阻抗节点（如1kΩ）形成的低通滤波器截止频率也可能低至...

共模抑制比详解       在探头的数据手册上，共模抑制比性能参数是核心指标之一。共模抑制比又名CMRR，通常用分贝（dB）来表示，其计算公式为：其中其中       本司光隔离产品CMRR在直流或低频下能达到120dB以上，本文用光隔离探头介绍如何测量探头的共模抑制比：设备准备30kV放大器：HA-30K光隔离探头：PTO350配X10衰减器高频示波器：MDO7500A信号发生器：DG51...

在电子测试领域，面对高共模电压与复杂信号环境，传统测量工具往往力不从心。差分探头，作为现代示波器的黄金搭档，以其卓越的性能与精准度，重新定义了电子测试的标准，成为工程师们信赖的测量利器。精准测量，无惧高共模挑战PT-6140差分探头，专为高共模电压电路设计，其100MHz的带宽与14000Vp-p的峰值输入电压，确保了在电子功率变换器、逆变器、电机速度控制及开关电源等领域的广泛应用。无论是5...